Estudio de la reconstrucción del espectro primario de rayos X a partir de la simulación de detectores de semiconductor

Abstract

[ES] El presente trabajo pretende estudiar la idoneidad de tres detectores de semiconductor: Germanio, Silicio y Teluro de Cadmio para reconstruir el espectro primario de los equipos de radiodiagnóstico en distintos intervalos de energía. Para ello, se utiliza un método mixto experimental-Monte Carlo (MC) y un método de reconstrucción. Se ha utilizado el programa MCNP5 con el fin de simular todo el proceso físico que tiene lugar entre la fuente de rayos X, el espectrómetro y cada uno de los detectores. Tras un estudio previo de los métodos matemáticos de reconstrucción: el Modificado Truncado de Descomposición en Valores Singulares (MTSVD), el Amortiguado de Descomposición en Valores Singulares (DSVD) y el de Tikhonov, se ha escogido para el presente trabajo este último por ser el que mejor aproxima el espectro reconstruido al espectro teórico.