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RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia
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| On the influence of interface charging dynamics and stressing conditions in strained silicon devices | 195 |
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| mayo 2024 | junio 2024 | julio 2024 | agosto 2024 | septiembre 2024 | octubre 2024 | noviembre 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| On the influence of interface charging dynamics and stressing conditions in strained silicon devices | 3 | 2 | 2 | 1 | 3 | 3 | 0 |
Visitas al fichero
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Scientific_reports.pdf | 199 |
Países con más visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 122 |
| China | 22 |
| Francia | 18 |
| España | 10 |
| Alemania | 6 |
| Irlanda | 6 |
| Holanda | 3 |
| Suecia | 2 |
| Australia | 1 |
| Chequia | 1 |
Ciudades con más visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Ashburn | 52 |
| Grenoble | 11 |
| Dublin | 6 |
| Louisville | 6 |
| Chandler | 5 |
| Guangzhou | 5 |
| Mountain View | 5 |
| San Antonio | 5 |
| Valencia | 5 |
| Boardman | 4 |
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