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Unfolding X-ray spectra using a flat panel detector. Determination of the accuracy of the method with the Monte Carlo method

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Unfolding X-ray spectra using a flat panel detector. Determination of the accuracy of the method with the Monte Carlo method

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Gallardo Bermell, S.; Ródenas Diago, J.; Verdú Martín, GJ. (2019). Unfolding X-ray spectra using a flat panel detector. Determination of the accuracy of the method with the Monte Carlo method. Radiation Physics and Chemistry. 155:233-238. https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2018.09.014

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/142159

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Metadatos del ítem

Título: Unfolding X-ray spectra using a flat panel detector. Determination of the accuracy of the method with the Monte Carlo method
Autor: Gallardo Bermell, Sergio Ródenas Diago, José Verdú Martín, Gumersindo Jesús
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Química y Nuclear - Departament d'Enginyeria Química i Nuclear
Fecha difusión:
Resumen:
[EN] The primary X-ray spectrum depends on different parameters such as high voltage, filament current, high voltage ripple, anode angle and thickness of filter material. The objective of this work is to determine whether ...[+]
Palabras clave: Discrete , Regularization
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
Fuente:
Radiation Physics and Chemistry. (issn: 0969-806X )
DOI: 10.1016/j.radphyschem.2018.09.014
Editorial:
Elsevier
Versión del editor: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2018.09.014
Título del congreso: 10th International Topical Meeting on Industrial Radiation and Radioisotope Measurement Applications (IRRMA-X)
Lugar del congreso: Chicago, USA
Fecha congreso: Julio 09-13,2017
Tipo: Artículo Comunicación en congreso

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