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Parametric effects by using the strip-pair comparison method around red CIE color center

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Parametric effects by using the strip-pair comparison method around red CIE color center

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Brusola Simón, F.; Tortajada Montañana, I.; Lengua, I.; Jorda-Albiñana, B.; Peris Fajarnes, G. (2020). Parametric effects by using the strip-pair comparison method around red CIE color center. Optics Express. 28(14):19966-19977. https://doi.org/10.1364/OE.395291

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/176476

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Metadatos del ítem

Título: Parametric effects by using the strip-pair comparison method around red CIE color center
Autor: Brusola Simón, Fernando Tortajada Montañana, Ignacio Lengua, Ismael Jorda-Albiñana, Begoña Peris Fajarnes, Guillermo
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Gráfica - Departament d'Enginyeria Gràfica
Fecha difusión:
Resumen:
[EN] The strip comparison method, based on the serial exploration method described by Torgerson [Theory and Methods of Scaling; Wiley & Sons (1958); Chap. 7], for the development of near-threshold color difference models ...[+]
Derechos de uso: Reconocimiento (by)
Fuente:
Optics Express. (issn: 1094-4087 )
DOI: 10.1364/OE.395291
Editorial:
The Optical Society
Versión del editor: https://doi.org/10.1364/OE.395291
Tipo: Artículo

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