Robledillo Pastor, MA. (2013). Análisis espectrométrico Raman del semiconductor HgGa2S4. http://hdl.handle.net/10251/35939.

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Metadatos del ítem

Título:	Análisis espectrométrico Raman del semiconductor HgGa2S4
Autor:	Robledillo Pastor, Mateo Antonio
Director(es):	Gomis Hilario, Oscar Vilaplana Cerda, Rosario Isabel
Entidad UPV:	Universitat Politècnica de València. Departamento de Física Aplicada - Departament de Física Aplicada Universitat Politècnica de València. Escuela Politécnica Superior de Alcoy - Escola Politècnica Superior d'Alcoi Universitat Politècnica de València. Centro de Tecnologías Físicas: Acústica, Materiales y Astrofísica - Centre de Tecnologies Físiques: Acústica, Materials i Astrofísica
Fecha acto/lectura:	2013-06-20 Fecha difusión: 2014-02-25
Derechos de uso:	Cerrado
Editorial:	Universitat Politècnica de València
Titulación:	Ingeniería Técnica Industrial, esp. en Electricidad-Enginyeria Tècnica Industrial, esp. en Electricitat
Tipo:	Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado

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• EPSA - Trabajos académicos [5826]
  Escuela Politécnica Superior de Alcoy

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