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Análisis espectrométrico Raman del semiconductor HgGa2S4

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Análisis espectrométrico Raman del semiconductor HgGa2S4

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dc.contributor.advisor Gomis Hilario, Oscar es_ES
dc.contributor.advisor Vilaplana Cerda, Rosario Isabel es_ES
dc.contributor.author Robledillo Pastor, Mateo Antonio es_ES
dc.date.accessioned 2014-02-25T08:51:36Z
dc.date.available 2014-02-25T08:51:36Z
dc.date.created 2013-06-20
dc.date.issued 2014-02-25
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/35939
dc.format.extent 67 es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject.classification FISICA APLICADA es_ES
dc.subject.other Ingeniería Técnica Industrial, esp. en Electricidad-Enginyeria Tècnica Industrial, esp. en Electricitat es_ES
dc.title Análisis espectrométrico Raman del semiconductor HgGa2S4 es_ES
dc.type Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado es_ES
dc.rights.accessRights Cerrado es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Politécnica Superior de Alcoy - Escola Politècnica Superior d'Alcoi es_ES
dc.description.bibliographicCitation Robledillo Pastor, MA. (2013). Análisis espectrométrico Raman del semiconductor HgGa2S4. http://hdl.handle.net/10251/35939. es_ES
dc.description.accrualMethod Archivo delegado es_ES


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