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Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados

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Cabrera López, P. (2006). Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados. http://hdl.handle.net/10251/37475.

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Metadatos del ítem

Título: Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados
Autor:
Director(es): Esteve Bosch, Raul Jiménez Marquina, Fco. Javier
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials
Fecha difusión:
Fecha acto/lectura: 2006-05-08
Resumen:
Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales (5520)


[es] El presente Proyecto Fin de Carrera trata básicamente, de la implementación en código ensamblador de tests de memoria (memory BIST, Built In Self Test) para la detección de fallos en la nueva generación de circuitos ...[+]
Palabras clave: Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales , Algoritmos , Circuitos integrados
Derechos de uso: Cerrado
Titulación: Ingeniero Industrial-Enginyer Industrial
Tipo: Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado

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