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Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados

RiuNet: Institutional repository of the Polithecnic University of Valencia

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Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados

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Cabrera López, P. (2006). Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados. http://hdl.handle.net/10251/37475.

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Title: Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados
Author:
Director(s): Esteve Bosch, Raul Jiménez Marquina, Fco. Javier
UPV Unit: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials
Read date / Event date:
2006-05-08
Issued date:
Abstract:
Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales (5520)


[es] El presente Proyecto Fin de Carrera trata básicamente, de la implementación en código ensamblador de tests de memoria (memory BIST, Built In Self Test) para la detección de fallos en la nueva generación de circuitos ...[+]
Subjects: Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales , Algoritmos , Circuitos integrados
Copyrigths: Cerrado
degree: Ingeniero Industrial-Enginyer Industrial
Type: Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado

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