Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados

Abstract

Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales (5520)

[ES] El presente Proyecto Fin de Carrera trata básicamente, de la implementación en código ensamblador de tests de memoria (memory BIST, Built In Self Test) para la detección de fallos en la nueva generación de circuitos que vende la empresa DS2. La gran mayoría de los circuitos integrados, que actualmente se desarrollan, dada su complejidad, poseen un sistema de chequeo interno y autónomo llamado BIST, esto es, una circuitería adicional capaz de diagnosticar si el propio circuito en el que se encuentra inmersa funciona o, por el contrario a sido resultado de una fabricación defectuosa. Esta es la manera actualmente más utilizada, por su eficiencia, de aplicar un control de calidad a los circuitos integrados posteriormente a su fabricación. El autor del proyecto ha desarrollado la implementación de algoritmos de tests, que ayudándose de un BIST específico, el BIST para las memorias internas de las que dispone el chip, determina si estas memorias funcionan o no correctamente, dando finalmente como resultado si el chip es defectuoso o válido para su venta. DS2 es una joven empresa valenciana que en poco tiempo se ha convertido en líder mundial en el diseño de circuitos integrados para sistemas de comunicaciones PLC (Power Line Communications). Además de producir circuitos integrados de alta tecnología, realiza diseños de referencia que son productos perfectamente comercializables, por lo que, en ocasiones, realizan pequeñas producciones a gran escala de unos pocos cientos de equipos, no siendo nada extraño que desde sus primeros diseños de dispositivos de acceso PLC (Proyecto Madbric) se plantearan la necesidad de disponer de un sistema BIST.