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Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados

RiuNet: Institutional repository of the Polithecnic University of Valencia

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Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados

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dc.contributor.advisor Esteve Bosch, Raul es_ES
dc.contributor.advisor Jiménez Marquina, Fco. Javier es_ES
dc.contributor.author Cabrera López, Pedro es_ES
dc.date.accessioned 2014-05-14T11:23:37Z
dc.date.available 2014-05-14T11:23:37Z
dc.date.created 2006-05-08
dc.date.issued 2014-05-14
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/37475
dc.description.abstract Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales (5520) es_ES
dc.description.abstract [ES] El presente Proyecto Fin de Carrera trata básicamente, de la implementación en código ensamblador de tests de memoria (memory BIST, Built In Self Test) para la detección de fallos en la nueva generación de circuitos que vende la empresa DS2. La gran mayoría de los circuitos integrados, que actualmente se desarrollan, dada su complejidad, poseen un sistema de chequeo interno y autónomo llamado BIST, esto es, una circuitería adicional capaz de diagnosticar si el propio circuito en el que se encuentra inmersa funciona o, por el contrario a sido resultado de una fabricación defectuosa. Esta es la manera actualmente más utilizada, por su eficiencia, de aplicar un control de calidad a los circuitos integrados posteriormente a su fabricación. El autor del proyecto ha desarrollado la implementación de algoritmos de tests, que ayudándose de un BIST específico, el BIST para las memorias internas de las que dispone el chip, determina si estas memorias funcionan o no correctamente, dando finalmente como resultado si el chip es defectuoso o válido para su venta. DS2 es una joven empresa valenciana que en poco tiempo se ha convertido en líder mundial en el diseño de circuitos integrados para sistemas de comunicaciones PLC (Power Line Communications). Además de producir circuitos integrados de alta tecnología, realiza diseños de referencia que son productos perfectamente comercializables, por lo que, en ocasiones, realizan pequeñas producciones a gran escala de unos pocos cientos de equipos, no siendo nada extraño que desde sus primeros diseños de dispositivos de acceso PLC (Proyecto Madbric) se plantearan la necesidad de disponer de un sistema BIST. es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales es_ES
dc.subject Algoritmos es_ES
dc.subject Circuitos integrados es_ES
dc.subject.classification INGENIERA DE CALIDAD (UPV) es_ES
dc.subject.other Ingeniero Industrial-Enginyer Industrial es_ES
dc.title Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados es_ES
dc.type Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado es_ES
dc.rights.accessRights Cerrado es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials es_ES
dc.description.bibliographicCitation Cabrera López, P. (2006). Implementación y validación de algoritmos de detección de fallos para el control de calidad en la fabricación de circuitos integrados. http://hdl.handle.net/10251/37475. es_ES
dc.description.accrualMethod Archivo delegado es_ES


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