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RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia
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|---|---|
| Characterizing the impact of process variation on 45 nm NoC-based CMPs | 249 |
Visitas al mes
| mayo 2024 | junio 2024 | julio 2024 | agosto 2024 | septiembre 2024 | octubre 2024 | noviembre 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Characterizing the impact of process variation on 45 nm NoC-based CMPs | 0 | 2 | 2 | 9 | 6 | 0 | 1 |
Visitas al fichero
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Hernández;Roca;Flich - Characterizing the impact of process variation on 45 nm NoC-based CMPs.pdf | 4 |
| Hernández;Roca;Flich - Characterizing the impact of process variation on 45 nm NoC-based CMPs.pdf.jpg | 2 |
Países con más visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 145 |
| China | 22 |
| Francia | 20 |
| España | 18 |
| Alemania | 16 |
| Irlanda | 5 |
| Bélgica | 4 |
| Finlandia | 3 |
| Grecia | 3 |
| Vietnam | 3 |
Ciudades con más visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Ashburn | 47 |
| Valencia | 13 |
| Boardman | 10 |
| Louisville | 9 |
| Villeurbanne | 8 |
| Alameda | 6 |
| Mountain View | 6 |
| San Mateo | 6 |
| Dublin | 5 |
| San Diego | 5 |
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