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Gallardo Bermell, S.; Pozuelo, F.; Querol Vives, A.; Ródenas Diago, J.; Verdú Martín, GJ. (2013). Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X. Grupo Senda. http://hdl.handle.net/10251/49076
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Título: | Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X | |
Autor: | Pozuelo, Fausto | |
Entidad UPV: |
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Fecha difusión: |
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Resumen: |
[ES] En este trabajo se propone el uso de un detector flat panel junto a una cuña de polimetilmetacrilato (PMMA) para estimar el espectro de rayos X utilizando el método de Monte Carlo y técnicas de reconstrucción. El ...[+]
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Palabras clave: |
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Derechos de uso: | Reserva de todos los derechos | |
Editorial: |
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Versión del editor: | http://www.inscripcioneventos.com/906809/docs/906809-565814.doc | |
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