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Double Laser for Depth Measurement of Thin Films of Ice

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Double Laser for Depth Measurement of Thin Films of Ice

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Domingo Beltran, M.; Luna Molina, R.; Satorre, MÁ.; Santonja Moltó, MDC.; Millán Verdú, C. (2015). Double Laser for Depth Measurement of Thin Films of Ice. Sensors. 15(10):25123-25138. doi:10.3390/s151025123

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/64695

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Metadatos del ítem

Título: Double Laser for Depth Measurement of Thin Films of Ice
Autor:
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Centro de Tecnologías Físicas: Acústica, Materiales y Astrofísica - Centre de Tecnologies Físiques: Acústica, Materials i Astrofísica
Universitat Politècnica de València. Departamento de Física Aplicada - Departament de Física Aplicada
Fecha difusión:
Resumen:
The use of thin films is extensive in both science and industry. We have created an experimental system that allows us to measure the thicknesses of thin films (with typical thicknesses of around 1 μm) in real time ...[+]
Palabras clave: Thin films , Thickness , Refractive index
Derechos de uso: Reconocimiento (by)
Fuente:
Sensors. (issn: 1424-8220 )
DOI: 10.3390/s151025123
Editorial:
MDPI
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.3390/s151025123
Agradecimientos:
This work was supported by the Spanish Ministry of Education and Science (co-financed by AYA 2009-12 974 funds).
Tipo: Artículo

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