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Granda Juca, MF.; Condori Fernández, ON.; Vos, TE.; Pastor López, O. (2015). What do we know about the Defect Types detected in Conceptual Models?. IEEE. doi:10.1109/RCIS.2015.7128867
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/66682
Título: | What do we know about the Defect Types detected in Conceptual Models? | |
Autor: | Granda Juca, María Fernanda Condori Fernández, Olinda Nelly | |
Entidad UPV: |
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Fecha difusión: |
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Resumen: |
In Model-Driven Development (MDD), defects are managed at the level of conceptual models because the other artefacts are generated from them, such as more refined models, test cases and code. Although some studies have ...[+]
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Palabras clave: |
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Derechos de uso: | Reserva de todos los derechos | |
ISBN: |
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Fuente: |
(issn:
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DOI: |
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Editorial: |
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Versión del editor: | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/mostRecentIssue.jsp?punumber=7121393 | |
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