Determinación del índice de refracción de películas delgadas crecidas en condiciones crioscópicas por medio de la medida de reflectancia a un ángulo de incidencia

Abstract

En el presente trabajo se presenta un nuevo método de obtención de índices de refracción y espesores de películas delgadas, desarrollado por el grupo de astrofísica del Centro de Tecnologías Físicas: Acústica, Materiales y Astrofísica, cuyo laboratorio se encuentra en la Escuela Politécnica Superior de Alcoy. La novedad del método radica en el hecho de que el índice puede ser obtenido únicamente con la medida de la reflectancia mientras la película es crecida sobre un substrato, en nuestro caso de oro.