- -

Determinación del índice de refracción de películas delgadas crecidas en condiciones crioscópicas por medio de la medida de reflectancia a un ángulo de incidencia

RiuNet: Institutional repository of the Polithecnic University of Valencia

Share/Send to

Cited by

Statistics

  • Estadisticas de Uso

Determinación del índice de refracción de películas delgadas crecidas en condiciones crioscópicas por medio de la medida de reflectancia a un ángulo de incidencia

Show simple item record

Files in this item

Thumbnail
Name: Satorre - Determi ...
Size: 105.6Kb
Format: PDF
Description: Versión editorial
Open
dc.contributor.author Satorre, M. Á. es_ES
dc.contributor.author Luna Molina, Ramón es_ES
dc.contributor.author Santonja Moltó, Mª del Carmen es_ES
dc.contributor.author Domingo Beltran, Manuel es_ES
dc.contributor.author Millán Verdú, Carlos es_ES
dc.date.accessioned 2016-11-14T10:37:43Z
dc.date.available 2016-11-14T10:37:43Z
dc.date.issued 2013-11-12
dc.identifier.isbn 978-84-941363-6-8
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/73916
dc.description.abstract En el presente trabajo se presenta un nuevo método de obtención de índices de refracción y espesores de películas delgadas, desarrollado por el grupo de astrofísica del Centro de Tecnologías Físicas: Acústica, Materiales y Astrofísica, cuyo laboratorio se encuentra en la Escuela Politécnica Superior de Alcoy. La novedad del método radica en el hecho de que el índice puede ser obtenido únicamente con la medida de la reflectancia mientras la película es crecida sobre un substrato, en nuestro caso de oro. es_ES
dc.format.extent 4 es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Compobell, S.L. es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject.classification FISICA APLICADA es_ES
dc.title Determinación del índice de refracción de películas delgadas crecidas en condiciones crioscópicas por medio de la medida de reflectancia a un ángulo de incidencia es_ES
dc.type Comunicación en congreso es_ES
dc.rights.accessRights Abierto es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Centro de Tecnologías Físicas: Acústica, Materiales y Astrofísica - Centre de Tecnologies Físiques: Acústica, Materials i Astrofísica es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Politécnica Superior de Alcoy - Escola Politècnica Superior d'Alcoi es_ES
dc.description.bibliographicCitation Satorre, MÁ.; Luna Molina, R.; Santonja Moltó, MDC.; Domingo Beltran, M.; Millán Verdú, C. (2013). Determinación del índice de refracción de películas delgadas crecidas en condiciones crioscópicas por medio de la medida de reflectancia a un ángulo de incidencia. Compobell, S.L. http://hdl.handle.net/10251/73916 es_ES
dc.description.accrualMethod S es_ES
dc.relation.conferencename I Congreso I+D+i Campus de Alcoi. Creando sinergias es_ES
dc.relation.conferencedate November 12, 2013 es_ES
dc.relation.conferenceplace Alcoi es_ES
dc.type.version info:eu-repo/semantics/publishedVersion es_ES
dc.relation.senia 261350 es_ES


This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record