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Satorre, MÁ.; Luna Molina, R.; Santonja Moltó, MDC.; Domingo Beltran, M.; Millán Verdú, C. (2013). Determinación del índice de refracción de películas delgadas crecidas en condiciones crioscópicas por medio de la medida de reflectancia a un ángulo de incidencia. Compobell, S.L. http://hdl.handle.net/10251/73916
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Título: | Determinación del índice de refracción de películas delgadas crecidas en condiciones crioscópicas por medio de la medida de reflectancia a un ángulo de incidencia | |
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Entidad UPV: |
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Resumen: |
En el presente trabajo se presenta un nuevo método de obtención de índices de refracción y espesores de películas delgadas, desarrollado por el grupo de astrofísica del Centro de Tecnologías Físicas: Acústica, Materiales ...[+]
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Derechos de uso: | Reserva de todos los derechos | |
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