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| In Situ Monitoring of Microwave Processing of Materials at High Temperatures through Dielectric Properties Measurement | 160 |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|
| In Situ Monitoring of Microwave Processing of Materials at High Temperatures through Dielectric Properties Measurement | 0 | 2 | 4 | 0 | 0 | 2 | 4 |
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| publicado_materials-09-00349.pdf | 171 |
Países con más visualizaciones
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| Estados Unidos | 108 |
| China | 12 |
| Francia | 10 |
| España | 9 |
| Alemania | 6 |
| Irlanda | 6 |
| Suecia | 5 |
| India | 1 |
| Holanda | 1 |
| Rusia | 1 |
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| Ashburn | 54 |
| Boardman | 14 |
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| Louisville | 4 |
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| Alameda | 3 |
| Hangzhou | 3 |
| Mountain View | 3 |
| Nanjing | 2 |
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